書いていくよ

午前中は実験で未知すぎる測定結果に驚嘆して

発狂したり

午前中の測定結果は、色々あったけれど

今のところ私の測定ミスということで

片付きそうだ。

導通しないと思っていた環境で銅線を蔑ろにしていたせいで

大変なことが起きていた。

しかし、収穫もあった。

ワイヤーボンドが失敗=デバイスが死亡というわけではない ことが分かった。

金線を取った後にプローブで測定してみると

IV特性がボンディング前と変わらなかった。

これは大きな収穫だ。

Auパッド層を厚くしたのと、表面洗浄過程のブラッシュアップが効いたみたいだ

実際今回は面白いぐらい失敗しなかった。

明日の測定に期待。

積年のある課題について准教授先生と議論したりした。

研究結果を第一に日々を送っていると

こういった議論は先延ばしになりがちだが

これらの積み重ねが

また新しい観点を生んで

良い論文や自分の成長へと繋がると思うんです

おまじないレベルだけど

やらないよりは良い。

ささ。明日も早いし寝ます。

じゃあの