書いていくよ
午前中は実験で未知すぎる測定結果に驚嘆して
発狂したり
。
午前中の測定結果は、色々あったけれど
今のところ私の測定ミスということで
片付きそうだ。
導通しないと思っていた環境で銅線を蔑ろにしていたせいで
大変なことが起きていた。
しかし、収穫もあった。
ワイヤーボンドが失敗＝デバイスが死亡というわけではない ことが分かった。
金線を取った後にプローブで測定してみると
IV特性がボンディング前と変わらなかった。
これは大きな収穫だ。
Auパッド層を厚くしたのと、表面洗浄過程のブラッシュアップが効いたみたいだ
。
実際今回は面白いぐらい失敗しなかった。
明日の測定に期待。
。
。
積年のある課題について准教授先生と議論したりした。
研究結果を第一に日々を送っていると
こういった議論は先延ばしになりがちだが
これらの積み重ねが
また新しい観点を生んで
良い論文や自分の成長へと繋がると思うんです
。
おまじないレベルだけど
やらないよりは良い。
。
ささ。明日も早いし寝ます。
じゃあの